交通標(biāo)志逆反射系數(shù)測(cè)試儀

美國(guó)Roadvista932交通標(biāo)志逆反射系數(shù)測(cè)試儀是為現(xiàn)場(chǎng)操作及實(shí)驗(yàn)室分析專業(yè)設(shè)計(jì)的便攜式標(biāo)志逆反射系數(shù)測(cè)試儀。932系列被設(shè)計(jì)用于測(cè)試反光材料的逆反射系數(shù)值（RA），包括夜間道路安全標(biāo)識(shí)顏色標(biāo)準(zhǔn)（CIE 1931xy）。

使用者在輕松的按下測(cè)試按鍵后，準(zhǔn)確的告知使用者反光材料的實(shí)際逆反射系數(shù)值，除此以外，一并可測(cè)試反光材料的顏色是否符合顏色定義標(biāo)準(zhǔn)。

交通標(biāo)志逆反射系數(shù)測(cè)試儀連續(xù)可調(diào)的入射角和觀測(cè)角易于各種反光材料的測(cè)試，包括在EN471和ANSI 107標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范下的高亮度反光服測(cè)試。

Roadvista932交通標(biāo)志逆反射系數(shù)測(cè)試儀內(nèi)置藍(lán)牙發(fā)射器及USB接口。通過(guò)以上裝置可以輕松的通過(guò)電腦實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程操控，此外，內(nèi)置的記憶體可存儲(chǔ)超過(guò)32000組測(cè)試數(shù)據(jù)。

內(nèi)部的光感應(yīng)器，符合ASTM E1709和ASTM E2540規(guī)范的要求，符合CIE標(biāo)準(zhǔn)的人眼反應(yīng)系數(shù)。光感應(yīng)器與CIE照明標(biāo)準(zhǔn)A光源連接使用。Roadvista932交通標(biāo)志逆反射系數(shù)測(cè)試儀使用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的光度濾光器，精確測(cè)量時(shí)使用1個(gè)白板校準(zhǔn)板，而不需要設(shè)定任何修正系數(shù)，這安全超越了競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

● 簡(jiǎn)易操作，可測(cè)試各種類型的反光材料

● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技術(shù)規(guī)范

● 觀測(cè)角0.2°~2.0°連續(xù)可調(diào)

● 入射角-45°到+45°連續(xù)可調(diào)

● 通用的標(biāo)準(zhǔn)A光源

● 僅需一塊校正板，無(wú)需任何校正參數(shù)

● 獨(dú)立的電源供應(yīng)器和電池

● 數(shù)字觸摸彩屏顯示

● 內(nèi)置藍(lán)牙發(fā)射器

● USB接口

● 內(nèi)置均值計(jì)算器

● 內(nèi)置可存儲(chǔ)32000組測(cè)試數(shù)據(jù)的記憶體

技術(shù)參數(shù)：

● 入射角：-45°到+45°連續(xù)可調(diào)；

● 觀測(cè)角：0.2°到2°

● 光源孔徑張角：0.1°；

● 光感應(yīng)器孔徑張角：0.1°；

● 測(cè)試區(qū)域：直徑1英寸（25mm）區(qū)域；

● 技術(shù)規(guī)范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107測(cè)試規(guī)范；

● 光感應(yīng)器響應(yīng)速率：光感應(yīng)速率與ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；

● 量程：0-20000 cd/lx/m²;

● 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：超過(guò)32000組測(cè)試數(shù)據(jù)；

● 顏色測(cè)試：遵循CIE1931 xy retroreflected夜間色坐標(biāo)；

● 電腦相連裝置：usb接口和藍(lán)牙發(fā)射器；

● 電源供應(yīng)器：removeable12 VDC,2.4Ah；

● 充電器：110VAC,60HZ(932-2)

● 110VDC車載充電器（932）

● 220VAC，50Hz（932）

● 環(huán)境溫度：0°-50°

● 環(huán)境濕度：0-95%（非凝結(jié)）

● 外形尺寸：380*115*325mm

● 重量：2.9kg（含電池）

符合標(biāo)準(zhǔn)：符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范下的高亮度反光服測(cè)試要求。